|
登录
|
注册
退出
|
咨询电话:
400-680-7517
|
招聘中心
首页
工业显微镜
显微镜定制解决方案
OLS全自动3D激光测量系统
激光共焦显微镜
OLS5100
数码显微镜
DSX2000
测量显微镜
STM7
STM7-BSW
光学显微镜
BX53M
GX53
BX53-P
BXFM
半导体与平板显示器检测显微镜
MX63/MX63L
AL120
AL120-12
体视显微镜
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
图像分析软件
PRECiV
Stream
镜片反射率测定仪
USPM-RUⅢ
USPM-RU-W
显微系统方案及配件
红外显微成像系统
BX/MX
石棉检测显微系统
石棉检测显微系统
清洁度检测
CIX100
焊接熔深检测系统
焊接熔深检测系统
瑷荔德红外相机
Goldeye
Prior平台
OptiScan ES111
INSTEC冷热台
HP1000V-MPS
HCP421V-MPS
HCP421V-PM
TS102GXY / TS102VXY
HS1500G
HCS350G-TNS
HCS621GXY
电子显微镜
台式电子显微镜
TM4000II/TM4000PlusII
扫描电子显微镜
FlexSEM 1000 II
SU3800/SU3900
场发射扫描电子显微镜
SU9000
Regulus系列
日立电镜制样设备
IM4000Plus
ArBlade5000
MC1000
VC-100
MSP-2S/MSP-Mini
Park原子力显微镜
大样品AFM
Park NX20 300mm
Park NX20
Park XE15
小样品AFM
Park NX12
Park NX10
Park XE7
高真空原子力显微镜
Park NX-Hivac
全自动AFM
Park NX-Wafer
Park NX-TSH
显微自动化
WDI ATF
ATF2-LV
ATF4
ATF5
ATF6 SWIFT
ATF6-PZ
ATF7
WDI MMS
MMS
MMS LFOV
WDI MIC
MIC AOI
WDI IRLC
IRLC
Navitar镜头
MicroMate
MTL
Resolv4K
Pro Optics线扫镜头
变焦镜头
微距镜头
远心镜头
金相制样设备
切割机
AbrasiMet™ XL Pro
AbrasiMet™ M
IsoMet 1000
PetroThin™
IsoMet High Speed
镶嵌机
SimpliMet4000
SimpliVac™
研磨抛光机
EcoMet 30
EcoMet 30
VibroMet™ 2
AutoMet 250
AutoMet™ 250 Pro
AutoMet™ 300 Pro
硬度计
洛氏硬度计
Rockwell 574
RH2150
维氏/努氏硬度计
VH1102/1202
VH1150
Wilson VH3300
VH3100
布氏/万能硬度计
BH3000
UH4000
拉力机
低力值万能材料试验机
6800系列
3400系列
高力值万能材料试验机
5980系列
工业内窥镜
工业视频内窥镜
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite/G Lite-W
IPLEX TX II
光源
光源
高速摄像机
高速摄像机
i-SPEED 7系列
i-SPEED 5系列
i-SPEED 2系列
分析软件
ProAnalyst
凌光红外锁相红外微光显微镜
锁相红外显微镜
LUXET EMMI 100
LUXET Thermo 50
LUXET Thermo 100
日立超声波影像装置
日立超声波影像装置
FineSAT Ⅴ
FineSAT Ⅲ
FineSAT HR
FineSAT Hybrid
ES5100系列
FS LINE/FS LINE Hybrid
WAFER LINE
产品
新能源汽车及材料
动力锂电池
电机
汽车电子
清洁度检测
半导体
Wafer
Bump
Wire Bonding
MEMS
功率器件
LED
5G及光电
FPD
5G
PCB
Solar太阳能板
ITO
科研高校
仿生学
微流控
精密加工
行业应用
设备租赁
产品演示
仪器维护
产品培训
增值服务
样品测试
服务支持
关于我们
新闻中心
销售网络
公司信息
联系我们
新闻中心
首页
>>>
公司新闻
扫描电子显微镜的定义
扫描电子显微镜
的定义
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种用于观察和分析材料表面微观结构的重要仪器。这种显微镜利用高能电子束与样品表面相互作用,以获取样品表面的三维形貌和组成信息。扫描电子显微镜的工作原理主要是将电子枪发射出的电子束聚焦,经过电磁透镜系统控制后,以极高的分辨率扫描样品表面。在此过程中,电子与样品原子的相互作用会产生二次电子、背散射电子等信号,经过探测器收集并转换成图像,*终在显示屏上呈现出细致入微的样品表面结构。
扫描电子显微镜的分辨率通常可以达到纳米级,这使得它能够揭示材料乃至生物样品微观层面的细节,诸如表面粗糙度、形状、尺寸及成分等信息。因此,它广泛应用于材料科学、半导体工业、生物学、医学及纳米科技等多个领域。通过使用扫描电子显微镜,研究者们不仅能够观察到材料的微观形态,还能通过能谱分析等辅助手段对材料的化学成分进行深入的了解。此外,SEM由于操作相对简单,且能够以真空状态对样品进行观察,使得不同形态和性质的样品均能被有效研究。
在现代科学研究中,扫描电子显微镜的出现和发展极大地推动了各项技术进步,不仅加深了人们对物质世界微观结构的认识,也为新材料的开发和生物技术的创新提供了有力支持。如何合理运用扫描电子显微镜的技术,成为了科学家们在研究中不断探讨的重要课题。展望未来,随着显微成像技术的不断进步和多样化,扫描电子显微镜将会与其他**成像技术结合,为科学研究和产品开发提供更加强大的工具,助力人类探索未知的领域,实现更大范围的科学发现和技术创新。
上一篇:
暂无
下一篇:
捕捉瞬间的艺术:高速摄像机的魅力与应用
首页
产品
行业应用
服务支持
公司信息
联系我们
Copyright@ 2003-2025
上海西努光学科技有限公司
版权所有
沪ICP备13022329号-3